Dienstag, 13.05.2025 - Sessie 1, Räume Moskou/Verona

Hochtemperatur (Metaal/Glas/Keramik/Baustoffe)Toepassingen en Gerätetechnologien

Die Ausstellung der Hausmesse ist täglich von 9 bis 17 Uhr für Sie geöffnet.
Parallel dazu finden die Vorträge statt.

9:30 - 9:50Trends, problemen en kansen voor de Europese analysemarktDr. Janina Bolling
Spectaris - Deutscher Industrieverband für Optik, Photonik, Analysen- und Medizintechnik e.V.
9:55 - 10:15Materiaalkarakterisering bij hoge temperaturen:
Thermische Analyse en thermofysikalische
Eigenschaften für zukunftsweisende Anwendungen
Dr. Denise Beitelschmidt
NETZSCH-Gerätebau GmbH
zum Abstract
10:20 - 10:40Maßgeschneiderte Oxidkeramiken mit hoher Bruchzähigkeit durch spezielle VerstärkungsmechanismenDr. Wolfgang Burger
Stefan Pfadenhauer
RauschertHeinersdorf-Pressig GmbH
zum Abstract
10:45 - 11:05Fysikalische Zementprüfung nach EN & ASTM -
Ein typisches Labor im Zementwerk
Clemens Hoberg
Toni Technik Baustoffprüfsysteme GmbH
zum Abstract
11:10 - 11:30Einsatz der Tieftemperaturdilatometrie zur Bestimmung der Frostbeständigkeit von BaukeramikStefan Link
Forschungsinstitut für Glas-Keramik GmbH
zum Abstract
13:35 - 13:55Erhitzungsmikroskopie: Vielseitiges Werkzeug zur Material- und Prozessoptimierung am Beispiel von Glas und KeramikSimon Hesse
Hesse Instrumenten GmbH
zum Abstract
14:00 - 14:20Thermofysikalische karakterisering
in einem weiten Temperatur- und Druckbereich
Dr. Jochen Manara
Centrum voor toegepast energieonderzoek e.V.
zum Abstract
14:25 - 14:45De invloed van kornfeinenden Elementen op de Gefügestruktur en de Martensit-Austenit-Umwandlung van Bronzen, nachgewiesen mittels DSC-AnalysenDr. Romina Krieg
Forschungsgemeinschaft Werkzeuge und Werkstoffe e.V.
zum Abstract
14:50 - 15:10Die Vorteile der TG-FTIR-Kopplung und ergänzender ATR-MessungenDr. Tony Stüker
Bruker Optics GmbH & Co. KG
zum Abstract
15:15 - 15:35Fortschrittliche Materialcharakterisierung: Umfassende thermoanalytische Methoden zur Charakterisierung von
Prozessmaterialien für Advanced Node Design in der Halbleiterindustrie

Carsten Biebesheimer,

Dr. Christoph Körber
Merck KGaA

zum Abstract
15:40 - 16:00Gasanalyse gekoppelt - heiß, komplex und informationsreichDr. Michael Schöneich
NETZSCH-Gerätebau GmbH
zum Abstract
om 18:00Netwerkevenement in VORIUM Selb
(Teilnahme nur nach vorheriger Anmeldung möglich - die Plätze sind limitiert)
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