Dienstag, 13.05.2025 - Сессия 1, Räume Москва/Верона

Hochtemperatur (Metalle/Glas/Keramik/Baustoffe) -.Применения и технологии производства

Выставка Hausmesse проводится с 9 до 17 часов.
Parallel dazu finden die Vorträge statt.

9:30 - 9:50Тенденции, потребности и шансы для европейского рынка аналитикиД-р Янина Боллинг
Spectaris - Deutscher Industrieverband für Optik, Photonik, Analysen- und Medizintechnik e.V.
9:55 - 10:15Изменение свойств материалов при высоких температурах:
Термический анализ и теплофизические
характеристики для применения в современных условиях
Д-р Дениз Бейтельшмидт
NETZSCH-Gerätebau GmbH
zum Abstract
10:20 - 10:40Масгесшнейдерные оксидкерамики с более высоким уровнем брухзагикеита благодаря специальным верстаркунгсмеханизмамД-р Вольфганг Бургер
Штефан Пфаденхауэр
РаушертаХайнерсдорф-Прессиг ГмбХ
zum Abstract
10:45 - 11:05Physikalische Zementprüfung nach EN & ASTM -
Ein typisches Labor im Zementwerk
Клеменс Хоберг
Toni Technik Baustoffprüfsysteme GmbH
zum Abstract
11:10 - 11:30Einsatz der Tieftemperaturdilatometrie zur Bestimmung der Frostbeständigkeit von BaukeramikШтефан Линк
Forschungsinstitut für Glas-Keramik GmbH
zum Abstract
13:35 - 13:55Erhitzungsmikroskopie: Vielseitiges Werkzeug zur Material- und Prozessoptimierung am Beispiel von Glas und KeramikСимон Хессе
Хессе Инструментс ГмбХ
zum Abstract
14:00 - 14:20Теплофизические характеристики
в условиях низких температур и ударных нагрузок
Д-р Йохен Манара
Центр прикладных энергетических исследований e.V.
zum Abstract
14:25 - 14:45Влияние корнфайненден-элементов на гефюгеструктуру и мартенситно-аустенитно-аккумулирующую способность бронзы при использовании ДСК-анализаДоктор Ромина Криг
Forschungsgemeinschaft Werkzeuge und Werkstoffe e.V.
zum Abstract
14:50 - 15:10Преимущества TG-FTIR-Kopplung и эргодичного ATR-измеренияД-р Тони Штюкер
Bruker Optics GmbH & Co. KG
zum Abstract
15:15 - 15:35Fortschrittliche Materialcharakterisierung: Umfassende thermoanalytische Methoden zur Charakterisierung von
Prozessmaterialien für Advanced Node Design in der Halbleiterindustrie

Карстен Бибесхаймер,

Dr. Christoph Körber
Merck KGaA

zum Abstract
15:40 - 16:00Газоанализ на основе гекоппельта - хейз, комплекс и информатизацияД-р Михаэль Шёнайх
NETZSCH-Gerätebau GmbH
zum Abstract
ab 18:00Сетевое мероприятие в VORIUM Selb
(Teilnahme nur nach vorheriger Anmeldung möglich - die Plätze sind limitiert)
AI Overview
An error occurred. Please try again.